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小信号参差调谐放大器实验

小信号参差调谐放大器实验

 
一、      实验目的
1. 进一步掌握高频小信号调谐放大器的工作原理。
2. 掌握高频小信号调谐放大器的调试方法。
3. 掌握高频小信号调谐放大器各项技术参数(电压放大倍数,通频带,矩形系数)的测试
二、实验使用仪器
1.小信号调谐放大器实验板
2.20MH双踪示波器
3. 万用表
4.扫频仪(可选)
三、实验基本原理与电路
1、  小信号调谐放大器的基本原理
小信号调谐放大器是构成无线电通信设备的主要电路, 其作用是有选择地对某一频率范围的高频小信号信号进行放大 。 所谓“小信号”,通常指输入信号电压一般在微伏~毫伏数量级附近,放大这种信号的放大器工作在线性范围内。所谓“调谐”,主要是指放大器的集电极负载为调谐回路(如LC调谐回路)。这种放大器对谐振频率及附近频率的信号具有最强的放大作用,而对其它远离的频率信号,放大作用很差,如图8-1所示。
 
小信号调谐放大器技术参数如下:
增益:表示高频小信号调谐放大器放大微弱信号的能力

稳定性:电路稳定是放大器正常工作的首要条件。不稳定的高频放大器,当电路参数随温度等因素发生变化时,会出现明显的增益变化、中心频率偏移和频率特性曲线畸变,甚至发生自激振荡。由于高频工作时,晶体管内反馈和寄生反馈较强,因此高频放大器很容易自激。因此,必须采取多种措施来保证电路的稳定,如合理地设计电路、限制每级的增益和采取必要的工艺措施等。

噪声系数:为了提高接收机的灵敏度,必须设法降低放大器的噪声系数。高频放大器由多级组成,降低噪声系数的关键在于减小前级电路的内部噪声。因此,在设计前级放大器时,要求采用低噪声器件,合理地设置工作电流等,使放大器在尽可能高的功率增益下噪声系数最小。
2.参差调谐放大器
多级单调谐放大器级联后,总放大倍数等于各级单调谐放大器放大倍数之积,选择性提高但总的通频带变窄。N级QL值相同的调谐回路与单级单调谐放大器相比,总通频带缩小系数为,由于n﹥1,总通频带必定是缩小的。若采用降低QL值的方法加宽通频带,将使选择性太差且谐振增益太低,必须采取其它措施兼顾二者,双参差调谐放大器即是常用的方法之一。
这种调谐放大器在电路硬件形式上和多级放大器没有什么不同,但在调谐频点上有区别。所谓双参差调谐,是将两级单调谐回路放大器的谐振频率,分别调整到略高于和略低于信号的中心频率上。设信号的中心频率是f0,则将第一级调谐于f0+△fd,第二级调谐于f0-△fd(△fd是单个谐振回路的谐振频率与信号中心频率之差)。各级回路的谐振频率参差错开,因此称为参差调谐放大器。对于单个谐振电路而言,它是工作于失谐状态,±△fd/ f0称为参差失谐量。若考虑到谐振回路品质因数QL的影响,可得对应的±ξ0=±QL(2△fd/ f0)称为广义参差失谐量
当参差调谐的两个回路的QL值相同时,可将两个相同的频率特性曲线向左右方向各移动±ξ0,然后将它们的纵坐标分贝数相加,则可得到参差调谐回路的综合频率特性。由于在f0处两回路均处于失谐状态,谐振点处的总增益减小,这就使合成的频率曲线较为平坦,使总的通频带展宽。参差调谐回路的综合频率特性与广义参差失谐量ξ有关。ξ越小则越尖,越大则越平坦。当ξ0大到一定程度时,由于f0处的失谐太严重,综合频率特性曲线可以出现马鞍形双峰的形状。
理论推导表明,当ξ0<1时综合频率特性曲线为单峰;ξ0>1时为双峰;ξ0=1为两者的分界线,相当于单峰中最平坦的情况。越大,则双峰的距离越远,且中间的下凹越严重。
3.实验电路
小信号参差调谐放大器实验电路如图8-2。

图8-2 小信号参差调谐放大器实验电路
四、实验内容
  1.静态工作点与谐振回路的调整。
2.放大器的幅频特性及通频带的测试。
3.测试品质因数对放大器的幅频特性及通频带的影响。
说明:为增加模块功能,原A9 “小信号谐振放大器”模块已改进为“高频小信号参差调谐放大器”模块,由原来的一级高频调谐放大器改为两级高频调谐放大器,因此可进行通过参差调谐扩展通频带的相关实验。实验前请注意如下提示:
1、 高频小信号放大器输入中心频率f0为10.7MHz,所需幅度只需10~30mV,两级放大增益较高,输入过大将使输出波形产生严重失真,务请注意。
2、 参差调谐放大器第一级谐振点略低于10.7MHz,第二级谐振点略高于10.7MHz,形成以10.7MHz为中心频率,中部微凹两边对称的通频带特征。勿将两级谐振点调于同一频率,否则电路有可能产生自激。
3、 采用扫频仪可以直接观察放大器的通频带特征,但必须注意扫频仪输出的衰减量大于40~45dB,否则输入信号过大将使电路过载,并使观察到的通频带特性产生严重扭曲。
 
五、实验步骤
1.静态工作点与谐振回路的调整
⑴ 在实验箱主板上插上小信号参差调谐放大器实验电路模块。接通实验箱上电源开关电源指标灯点亮。跳线块开关J1接2-3端,采用实验箱LC、晶体正弦波振荡电路模块的晶体振荡器10.7MHz信号作为信号源,幅度调整在10 mV~20 mV,接入小信号调谐放大器实验电路IN1端。
⑵ 在第一级小信号调谐放大器输出(TP2)端,用示波器观测第一级放大后的信号,调整电位器W1和微调电容C7,使输出信号幅度最大。
⑶ 在第二级小信号调谐放大器输出(TP3)端,用示波器观测第一、二两级放大后的信号,调整电位器W2和微调电容C12,使输出信号幅度最大。
注意:当两级放大器的中心频率完全一致时,若各级增益过大极易产生高频自激,因此,当发现电路有自激倾向时,可适当调整W1和W2降低工作点电流以略微降低各级增益,或对两级调谐放大器的微调电容进行相反大小的微调,预置为参差调谐模式,均可有效消除自激倾向。
3. 采用扫频仪直接观察放大器的通频带特征
必须注意扫频仪输出衰减量在40~45dB左右,否则输入信号过大将使电路过载,并使观察到的通频带特性产生严重扭曲。具体实验步骤如下:
⑴ 在实验箱上安装好LC、晶体正弦波振荡电路模块,并使晶体振荡产生稳定的10.7MHz信号通过高频电缆注入扫频仪“外频标输入”端口,将扫频仪“频标方式”选为“外频标”,调节“频标幅度”旋钮至最大,适当缩小“扫频宽度”以扩大屏幕区域内能见的频率范围。通过左右旋动“中心频率”旋钮,找到10.7MHz信号产生的外频标点并将其移动到屏幕中央竖直中线上。此后不得再随意旋动“中心频率”旋钮。(可将“频标方式”临时改为“10:1”,观察内部频标此时在屏幕中央竖直中线上指示的频率值,以验证10.7MHz的f0中心频率确实已调整到屏幕中央,然后恢复外频标)。
⑵ AC/DC开关选择“AC”状态,×1/×10开关选择×1状态,极性开关选择“+”状态。
⑶ 将扫频仪扫频输出探头接于TP1(放大器输入)测试钩,探头地线夹就近良好接地。
⑷ 将扫频仪检波输入探头接于TP3(放大器输出2)测试钩,探头地线夹与扫频输出探头地线夹在同点接地。此时应在屏幕上出现放大器频率特性曲线。
⑸  仔细观察得到的放大器频率特性曲线,分析形状是否基本符合要求。并分别缓慢调节两级放大器的调谐回路,区分出每级对应的谐振峰大体位置(如两级放大器的调谐回路频率过于接近,则需将其调谐元件分别向相反方向微微调整,并注意始终保持曲线形状基本对称于外频标所在中心竖线位置)。如发现两峰幅度差别较大,则可分别调整电位器W1和W2,使各级增益分配趋于合适。
⑹ 缓慢细心地调节两级放大器的调谐回路,使曲线呈ξ0<1(单峰)、ξ0>1(双峰)和ξ0=1(单峰中最平坦,是前两者的分界线)等几种不同的情况。
  
3.放大器的放大倍数及通频带的测试
    ⑴放大倍数测试
      用示波器分别测出TP1端电压Ui和OUT端电压Uo,

 (2)通频带测试
利用扫频仪屏幕纵向刻度和内部频标所指示的频率,绘制放大器的幅频特性曲线,并大致估计3dB带宽点对应的频率值以及相应的ξ值。
 
六、实验报告要求
1.整理按实验步骤所得的数据,完成放大器幅频特性曲线的绘制工作。
2.由实验数据分析参差调谐振放大器在调整于不同ξ值的情况下对通频带的影响。
3.总结由本实验所获得的体会。
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